遇得“知芯人”,君无“烦芯事” –IC咖啡新加坡-集成电路及半导体材料分析案例交流


 IC咖啡新加坡-集成电路及半导体材料分析案例交流 

在半导体、集成电路、晶圆制造、计算机硬盘驱动器、太阳能电池及其材料领域,每天都离不开失效分析(FA)。TOF-SIMS, TEM, AES, XPS, FIB, FTIR,SEM/EDX等是最常用的分析技术。然而,许多时候面对问题,我们不知道从何处入手,如何选择正确的方法和组合,快速简捷的给出正确的判断,这则大有学问。

好消息,东南亚最大的商业化运作失效分析实验室,国际一流的专业材料分析中心、国际知名第三方FA公司胜科纳米(Wintech)公司总裁李晓旻先生将率领他的强大团队,于7月4日来到IC咖啡举办一场史无前例的分享会,与您就集成电路、半导体材料/器件和光电材料/器件FA技术和案例进行讲解、交流和研讨,现场解答您的疑问,难得的学习机会,不容错过,请马上报名以保证您的座位。

主讲人:胜科纳米(Wintech)公司总裁李晓旻先生及其团队

时间:2015年7月4日 周六下午 2pm – 4:30pm

地点:21 Woodlands Close #05-35, Primz Bizhub Singapore 737854

费用:免费 (提供茶水点心) 交通温馨提示:

  1. 驾车:通过Woodlands Ave 12到达。Woodlands11有免费停车位。
  2. 公共交通:乘地铁线到达Admiralty地铁站,在Blk 683A公交站转乘962公交车,两站后在Opp Blk 630公交站下车,走路140米即可到达。
 

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